به گزارش خبرگزاری مهر، این میکروسکوپ ها موسوم به TEM بوده و از ششم تا هشتم دسامبر یعنی هفته آتی در معرض دید عموم قرار خواهد گرفت.
دانشمندان این شرکت اعلام کردند که شعاع یونی متمرکز بر روی این میکروسکوپ، می تواند بدون وارد آوردن لطمه ای به چیپ های مجاور ویفرهای مورد نظر، از آنها تصویر برداری اتمی کند.
این سیستم آن چنان دقیق است که می توان بدون وارد آوردن لطمه ای به ویفر مجاور، ویفر مورد نظر را جدا کرده و در محیطی دیگر از آن اسکن برداری کرد.
شرکت یاد شده مدعی است که این میکروسکوپ ها داراری ضریب دقت و شفافیتی بالغ بر 40 درصد بیشتر از مدل های موجود است.
بر اساس گزارش eetimes این شرکت هم چنین از طراحی میکروسکوپ الکترونی تصویربرداری با ولتاژ پایینی خبر داده است که می توان با استفاده از آن تحلیل راحت تری از نیمه هادی های حتی با قطر کمتر از 65 نانومتر داشت.
نظر شما